半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）.pdfVIP

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法

第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）》（征求意见稿）

编制说明

一、工作简况

1、任务来源

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试

验（HAST）》是2025年国家标准化管理委员会下达的第十批推荐性国家标准计划

项目，计划项目发布文号：国标委发【2025】58号，计划号T-339。

由中华人民共和国工业和信息化部提出，全国半导体器件标准化技术委员会

（SAC/TC78）归口，第一起草单位为河北北芯半导体科技有限公司，其他起草

单位为中国电子科技集团公司第十三研究所、航天科工防御技术研究试验中心、

河北博威集成电路有限公司、西安空间无线电技术研究所、上海复旦微电子集团

股份有限公司、中国振华集团永光电子有限公司、北京遥感设备研究所、安建科

技（深圳）有限公司、山东芯赛思电子科技有限公司、青岛中微创芯电子有限公

司、中国振华集团云科电子有限公司。项目起止时间：2025年11月-2026年7月（周

期9个月）。

2、制定背景

强加速稳态湿热试验（HAST）方法，用于评价非气密封装半导体器件在潮湿

环境下的可靠性。与传统稳