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CN120161319A 一种集成电路温度循环实验及测试数据的处理方法 （北京航空航天大学）.pdfVIP

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  • 2026-04-28 发布于重庆
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CN120161319A 一种集成电路温度循环实验及测试数据的处理方法 （北京航空航天大学）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN120161319A

    (43)申请公布日2025.06.17

    (21)申请号202510230841.X

    (22)申请日2025.02.28

    (71)申请人北京航空航天大学

    地址100191北京市海淀区学院路37号

    申请人北京微电子技术研究所

    (72)发明人鹿靖江军季玉华高鹏焦涛

    (74)专利代理机构北京秉文同创知识产权代理

    事务所(普通合伙)11859

    专利代理师陈少丽孙富利

    (51)Int.Cl.

    G01R31/28(2006.01)

    权利要求书2页说明书9页附图2页

    (54)发明名称

    一种集成

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