CN120044034A 一种光学薄膜质量检测设备及其控制方法 （安徽点宇新材料科技有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120044034A

(43)申请公布日2025.05.27

(21)申请号202510235629.2

(22)申请日2025.02.28

(71)申请人安徽点宇新材料科技有限公司

地址232000安徽省淮南市山南新区新型

显示产业园18号楼101室

(72)发明人赵文斌江晓峰

(74)专利代理机构安徽云智数知识产权代理事

务所(普通合伙)34374

专利代理师吴金华

(51)Int.Cl.

G01N21/88(2006.01)

G01N21/892(2006.01)

G01N21/01(2006.01)

B65H23/34(2006.01)