探秘Ⅲ族氮化物低维异质结构:性质解析与位错抑制策略.docx

探秘Ⅲ族氮化物低维异质结构:性质解析与位错抑制策略.docx

探秘Ⅲ族氮化物低维异质结构:性质解析与位错抑制策略

一、引言

1.1研究背景与意义

在半导体领域的持续发展进程中,Ⅲ族氮化物低维异质结构凭借其独特的物理性质和卓越的应用潜力,已然占据了极为重要的地位。Ⅲ族氮化物主要涵盖氮化镓(GaN)、氮化铝(AlN)以及氮化铟(InN)等材料,这些材料具备直接带隙且带隙范围宽广,从InN的0.7eV、GaN的3.4eV一直延伸至AlN的6.2eV,对应的直接带隙波长范围覆盖了从红外到紫外的广阔区域。这一特性使得Ⅲ族氮化物在光电器件领域展现出无与伦比的优势,例如在发光二极管(LED)、激光二极管(LD)等器件中,能够依据不同的带隙

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