CN119738697A 一种硒鼓芯片批量检测方法 .pdfVIP

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  • 2026-05-09 发布于重庆
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CN119738697A 一种硒鼓芯片批量检测方法 .pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119738697A

(43)申请公布日2025.04.01

(21)申请号202510251897.3

(22)申请日2025.03.05

(71)申请人广州市达远智能办公设备有限公司

地址510000广东省广州市天河区车陂西

路206号二楼201房

(72)发明人温乾宏

(74)专利代理机构广州科跃云专利商标代理事

务所(普通合伙)44919

专利代理师杨雨豪

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G06F11/3668(2025.01)

权利要求书2页说明书5页

(54

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