CN119763640A 一种嵌入式存储芯片的质量评估方法 .pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119763640A

(43)申请公布日2025.04.04

(21)申请号202510269963.X

(22)申请日2025.03.07

(71)申请人成都职业技术学院

地址610000四川省成都市高新区站华路

15号

(72)发明人李爱民

(74)专利代理机构北京佳通科创专利商标代理

事务所(普通合伙)34140

专利代理师付彦爽

(51)Int.Cl.

G11C29/08(2006.01)

G06F18/213(2023.01)

G06F18/20(2023.01)

G06N20/00(2019.01)