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可尽早捕获缺陷的DDR仿真策略

DDR验证是任何设计过程中最关键也是最复杂的任务之一，由于它牵涉到位于待测器件内的控制器和位于待测器件外的DDR存储器。一个DDR系统由在一起工作的控制器、I/O、封装、插座、电源、时钟和外部存储器组成。在数字验证中，并不是全部这些元件都能验证到，但主要是控制器、PHY、I/O和存储器。因为在数字中无法模拟全部元件的效应，验证变得越发复杂，但门级仿真(GLS)给我们提供了一个很好的基础架构，来报告主要从时序角度看可能影响控制器-PHY-I/O路径的设计问题。

在门级仿真中验证DDR时会碰到许多