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CN119492804A 一种集成电路产品测试方法及装置 （安测半导体技术(义乌)有限公司）.docxVIP

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  • 2026-05-04 发布于山西
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CN119492804A 一种集成电路产品测试方法及装置 （安测半导体技术(义乌)有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119492804A

    (43)申请公布日2025.02.21

    (21)申请号202510074882.4

    (22)申请日2025.01.17

    (71)申请人安测半导体技术（义乌）有限公司

    地址322000浙江省金华市义乌市稠江街

    道戚继光路648号厂房（二）1楼、2楼

    (72)发明人苏广峰杨伟清

    (74)专利代理机构北京文苑专利代理有限公司11516

    专利代理师于利晓

    (51)Int.Cl.

    G01N29/06(2006.01)

    权利要求书2页说明书5页附图3页

    (54)发明名称

    一

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