CN119493721A 一种测试方法、装置以及框架 （广州希姆半导体科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119493721A

(43)申请公布日2025.02.21

(21)申请号202310946721.0

(22)申请日2023.07.28

(71)申请人广州希姆半导体科技有限公司

地址510530广东省广州市黄埔区凤桐横

街6号201房

(72)发明人姜小平

(74)专利代理机构北京睿派知识产权代理有限

公司11597

专利代理师刘锋赵红霞

(51)Int.Cl.

G06F11/3668(2025.01)

权利要求书2页说明书12页附图7页

(54)发明名称

一种测试方法、装置以及框架

(57)摘要

CN119493721A本发明实施例公开了一种测试方法、装置以及框架，通过在图调度测试任务确定测试需求后，根据测试需求确定测试参数的值，所述测试参数包括测试用例调用路径以及至少一项从测试任务调度框架与测试用例框架中提取的公共参数，再通过测试任务调度框架向测试用例框架传递测试参数的值，通过测试用例框架基于所述测试参数的值调用相应的测试用例，确定待执行测试用例集，通过所述测试用例框架基于所述测试参数的值执行测试用例集中的测试用例，生成测试报告。由此，可以简化测试参数的配置，提高

CN119493721A

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