JEDEC JESD22-A116E_2021 中文版 电子元器件的静电放电（ESD）测试标准 带电器件模型（CDM）.docxVIP

JEDECJESD22-A116E:2021中文版电子元器件的静电放电（ESD）测试标准带电器件模型（CDM）

前言

JEDECJESD22-A116E:2021是由联合电子设备工程委员会（JEDEC）正式发布并全球全行业统一强制执行的电子元器件静电放电专项可靠性核心测试标准，隶属于JEDECJESD22系列电子元器件机械环境与电应力可靠性试验标准关键组成模块，与人体模型HBM静电测试、机器模型MM静电测试共同构成半导体及电子元器件全场景静电防护与抗扰能力验证核心体系，专为全球半导体原厂芯片新品静电耐受定型验证、量产批次CDM静电抗扰一致性筛查、终端整机制造企业元器件来料静电合规准入认证、新能源车载、精密工控、医疗电子、航空航天及军工高可靠装备核心元器件自身带电瞬时放电抗损毁能力核验提供全球唯一统一合规的带电器件模型（CDM）静电放电试验基准与失效判定法定依据。本标准为JESD22-A116系列CDM静电放电测试规范2021年度最新修订升级版本，全面替代过往老旧版本关于CDM测试器件适用覆盖范围、静电放电测试设备波形精度校准要求、测试样品静电隔离与标准化安置规范、器件带电感应与引脚放电管控逻辑、单引脚与多引脚放电测试顺序及次数设定、标准测试环境温湿度与静电防护工况条件、测试前后元器件电气性能基准复检核验规则、CDM静电隐性损伤与永久电失效判定边界阈值、测试原始静电数据