微电子科学与工程半导体器件测试手册 (标准版).docxVIP

微电子科学与工程半导体器件测试手册(标准版)

1.第1章器件测试概述

1.1测试目的与意义

1.2测试方法与流程

1.3测试设备与工具

1.4测试标准与规范

1.5测试数据记录与分析

2.第2章基本半导体器件测试

2.1二极管测试

2.2三极管测试

2.3二极管阵列测试

2.4电容测试

2.5电阻测试

3.第3章电学性能测试

3.1电流-电压特性测试

3.2电容-电压特性测试

3.3电阻-温度特性测试

3.4电导率测试

3.5电桥测试

4.第4章电气性能测试

4.1电压-电流特性测试

4.2电平测试

4.3逻辑电平测试

4.4信号完整性测试

4.5电源测试

5.第5章热性能测试

5.1热阻测试

5.2热膨胀测试

5.3热应力测试

5.4热循环测试

5.5热老化测试

6.第6章机械性能测试

6.1机械强度测试

6.2机械振动测试

6.3机械疲劳测试

6.4机械应力测试

6.5机械加工测