CN120181034A 一种大规模集成电路版图内间距检查的方法 .pdfVIP

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  • 2026-05-08 发布于重庆
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CN120181034A 一种大规模集成电路版图内间距检查的方法 .pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120181034A

(43)申请公布日2025.06.20

(21)申请号202510263859.X

(22)申请日2025.03.06

(71)申请人上海日观芯设自动化有限公司

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