CN119519833A 光电s参数测试装置、系统及去嵌方法 （光梓信息科技(深圳)有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119519833A

(43)申请公布日2025.02.25

(21)申请号202510066405.3

(22)申请日2025.01.16

(71)申请人光梓信息科技（深圳）有限公司

地址518100广东省深圳市龙岗区坂田街

道南坑社区雅宝路1号星河WORLDF栋

大厦401

(72)发明人周丕森吴映王晓珊苏方圆

(74)专利代理机构上海光华专利事务所(普通合伙)31219

专利代理师施婷婷

(51)Int.Cl.

H04B10/079(2013.01)

权利要求书1页说明书5页附图5页

(54)发明名称

光电S参数测试装置、系统及去嵌方法

(57)摘要

CN119519833A本发明提供一种光电S参数测试装置、系统及去嵌方法，包括：矢量网络分析仪及光信号产生模块；矢量网络分析仪为光信号产生模块提供射频信号，并接收待测器件输出的测试电信号；光信号产生模块基于射频信号产生调制光信号；其中，光信号产生模块包括光源、驱动单元及调制器；光源提供光信号；驱动单元接收射频信号，并基于射频信号产生调制器的调制信号；调制器接收光信号，并在调制信号的作用下对光信号进行调制。本发明的光电S参数测试装置及系统可替代商用仪器，误差很小，可以满足测试使用需

CN119519