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研究报告

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材料现代分析与测试第七章扫描探针显微分析

一、扫描探针显微分析概述

1.扫描探针显微分析的基本原理

扫描探针显微分析（ScanningProbeMicroscopy,SPM）是一种基于微纳米尺度表面分析的精密技术。其基本原理是通过探针与样品表面的相互作用来获取表面的形貌、结构、成分和物理性质等信息。在STM（ScanningTunnelingMicroscopy）中，探针与样品之间的距离非常接近，约为0.1纳米，当施加一个小的电压时，如果探针与样品之间存在导电通道，将会有微弱的电流通过，称为隧道电流。通过测量隧道电流的变化，可以实现对样品