CN119519673A 一种电容检测系统及方法 （上海维安半导体有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119519673A

(43)申请公布日2025.02.25

(21)申请号202510099649.1

(22)申请日2025.01.22

(71)申请人上海维安半导体有限公司

地址201202上海市浦东新区祝桥镇施湾

七路1001号2幢

(72)发明人赵德森董振斌陈凯华

(74)专利代理机构上海申新律师事务所31272

专利代理师吴轶淳

(51)Int.Cl.

H03K5/153(2006.01)

H03K5/22(2006.01)

权利要求书2页说明书8页附图3页

(54)发明名称

一种电容检测系统及方法

(57)摘要

CN119519673A本发明供一种电容检测系统及方法，涉及电子电路技术领域，包括：将芯片引脚电容的电容值转化为电容时钟信号；定期获取电容时钟信号作为实时电容时钟信号，在每次获取得到实时电容时钟信号时，计算实时电容时钟信号与锁存的历史电容时钟信号之间的电容值差值，在判断电容值差值大于第一分辨率时将锁存的历史电容时钟信号更新为实时电容时钟信号，以及在判断电容值差值大于第二分辨率时输出表示电容变化的指示信号。有益效果是精细的计算方式有助于准确捕捉电容的微小变化；多分辨率的判断机制提高了系统的灵活性和准确性，通过设定合理的分辨率阈值，系统能