CN120102570A 一种基于条纹级次校正的高精度相位展开方法 .pdfVIP

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  • 2026-05-10 发布于重庆
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CN120102570A 一种基于条纹级次校正的高精度相位展开方法 .pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120102570A

(43)申请公布日2025.06.06

(21)申请号202510256215.8

(22)申请日2025.03.05

(71)申请人电子科技大学

地址611731四川省成都市高新区(西区)

西源大道2006号

(72)发明人岳慧敏方元祺王杰韦晨

刘永

(74)专利代理机构电子科技大学专利中心

51203

专利代理师甘茂

(51)Int.Cl.

G01N21/88(2006.01)

G01B11/25(2006.01)

G01N21/93(2006.01)

G06T7/13(2017.01)

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