CN119522360A 用于使用具有衍射伪影校正的计算机断层扫描进行材料密度测量的方法 （数姆科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119522360A

(43)申请公布日2025.02.25

(21)申请号202380053474.X

(22)申请日2023.06.30

(30)优先权数据

63/367,5322022.07.01US

(85)PCT国际申请进入国家阶段日2025.01.13

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/US2023/0694982023.06.30

(87)PCT国际申请的公布数据

WO2024/006990EN2024.01.04

(71)申请人数姆科技有限公司

地址美国

(72)发明人A·