2021长鑫存储研发岗在线测评历年考题及答案整理.docVIP

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  • 2026-05-11 发布于北京
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2021长鑫存储研发岗在线测评历年考题及答案整理.doc

2021长鑫存储研发岗在线测评历年考题及答案整理

一、单项选择题(每题2分,共20分)

1.以下哪种半导体存储技术速度最快?

A.DRAM

B.SRAM

C.NANDFlash

D.NORFlash

2.在集成电路制造中,光刻工艺的关键作用是?

A.刻蚀芯片表面材料

B.沉积薄膜材料

C.将电路图案转移到硅片上

D.掺杂特定元素

3.以下关于摩尔定律的描述,正确的是?

A.集成电路上可容纳的晶体管数目,约每隔18-24个月便会增加一倍,性能也将提升一倍

B.芯片的性能每隔18-24个月提升两倍

C.芯片的功耗每隔18-24个月降低一半

D.芯片的尺寸每隔18-24个月缩小一半

4.以下哪种不是常见的半导体掺杂元素?

A.硼

B.磷

C.硅

D.砷

5.动态随机存储器(DRAM)的特点是?

A.速度快、成本高、集成度低

B.速度慢、成本低、集成度高

C.速度快、成本高、集成度高

D.速度慢、成本高、集成度低

6.以下关于半导体器件的说法,错误的是?

A.二极管具有单向导电性

B.三极管可用于放大和开关电路

C.MOSFET是一种电压控制型器件

D.晶闸管只能用于整流电路

7.在半导体制造中,CMP(化学机械抛光)工艺主要用于?

A.去除光刻胶

B.平坦化硅片表面

C.刻蚀金属层

D.沉积

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