碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)试验方法 第5部分:高压高温高湿反偏.pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约2万字
  • 约 16页
  • 2026-05-11 发布于上海
  • 举报

碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)试验方法 第5部分:高压高温高湿反偏.pdf

ICS31.080.01

CCSL40

中华人民共和国国家标准

GB/TXXXXX—XXXX

碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管

(SiCMOSFET)试验方法第5部分:高压

高温高湿反偏

Testmethodsforsiliconcarbidemetal-oxide-semiconductorfield-effect

transistor(SiCMOSFET)—Part5:Highvoltage,hightemperatureandhigh

humidityreversebias

(点击此处添加与国际标准一致性程度的标识)

(征求意见稿)

2026410

(本草案完成时间:年月日)

在提交反馈意见时,请将您

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档