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- 2026-05-11 发布于上海
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ICS31.080.01
CCSL40
中华人民共和国国家标准
GB/TXXXXX—XXXX
碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管
(SiCMOSFET)试验方法第5部分:高压
高温高湿反偏
Testmethodsforsiliconcarbidemetal-oxide-semiconductorfield-effect
transistor(SiCMOSFET)—Part5:Highvoltage,hightemperatureandhigh
humidityreversebias
(点击此处添加与国际标准一致性程度的标识)
(征求意见稿)
2026410
(本草案完成时间:年月日)
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