CN120214539A 芯片缺陷检测方法、装置、计算机设备和可读存储介质 （中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）））.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120214539A

(43)申请公布日2025.06.27

(21)申请号202510296648.6

(22)申请日2025.03.13

(71)申请人中国电子产品可靠性与环境试验研

究所（（工业和信息化部电子第五研

究所）（中国赛宝实验室））

地址511370广东省广州市增城区朱村街

朱村大道西78号

(72)发明人路国光杨晓锋钟祥祥周扬阳

马丙戌陈思朱建垣王浩中

(74)专利代理机构华进联合专利商标代理有限

公司44224

专利代理师左帮胜

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)