CN119547193A 用于抑制光致发光测量中的背景发光强度的变化的方法以及半导体衬底的评估方法 （学校法人关西学院）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119547193A

(43)申请公布日2025.02.28

(21)申请号202380053842.0

(22)申请日2023.07.31

(30)优先权数据

2022-1273872022.08.09JP

(85)PCT国际申请进入国家阶段日2025.01.14

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/JP2023/0279472023.07.31

(87)PCT国际申请的公布数据

WO2024/034448JA2024.02.15

(71)申请人学校法人关西学院

地址日本兵库县

申请人丰田通