CN119556117A 一种芯片老化测试过程中的芯片绝缘缺陷检测装置及方法 (武汉永力睿源科技有限公司).docxVIP

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  • 2026-05-14 发布于山西
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CN119556117A 一种芯片老化测试过程中的芯片绝缘缺陷检测装置及方法 (武汉永力睿源科技有限公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119556117A

(43)申请公布日2025.03.04

(21)申请号202510130301.4

(22)申请日2025.02.05

(71)申请人武汉永力睿源科技有限公司

地址430070湖北省武汉市东湖新技术开

发区佛祖岭西路18号永力科技园

(72)发明人李少华邓卫华昝国骥阮班栋董雷高腾黄文章程航

(74)专利代理机构武汉知律知识产权代理事务所(普通合伙)42307

专利代理师张伟

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

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