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CN119575146A 芯片的加速老化和质量检测方法 （皇虎测试科技(深圳)有限公司）.docxVIP

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  • 2026-05-16 发布于山西
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CN119575146A 芯片的加速老化和质量检测方法 （皇虎测试科技(深圳)有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119575146A

    (43)申请公布日2025.03.07

    (21)申请号202510134615.1

    (22)申请日2025.02.07

    (71)申请人皇虎测试科技（深圳）有限公司

    地址518000广东省深圳市南山区西丽街

    道松坪山社区科技北二路25号航天微

    电机厂房科研楼B座二层

    (72)发明人赖俊生

    (74)专利代理机构北京鸿元知识产权代理有限

    公司11327

    专利代理师汤迎春袁文婷

    (51)Int.Cl.

    G01R31/28(2006.01)

    权利要求书2页说明书14页

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