CN120277314A 离散风险晶粒确定方法及晶粒标记方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 (上海积塔半导体有限公司).pdfVIP

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  • 2026-05-19 发布于重庆
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CN120277314A 离散风险晶粒确定方法及晶粒标记方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 (上海积塔半导体有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120277314A

(43)申请公布日2025.07.08

(21)申请号202510323836.3

(22)申请日2025.03.18

(71)申请人上海积塔半导体有限公司

地址201306上海市浦东新区中国(上海)

自由贸易试验区临港新片区云水路

600号

(72)发明人谢海燕林光启

(74)专利代理机构华进联合专利商标代理有限

公司44224

专利代理师张捷美

(51)Int.Cl.

G06F17/18(2006.01)

G01R31/28(2006.01)

权利要求书2页说明书1

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