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CN120259465A 大介电常数对比下相界面敏感的开域电容比层析成像方法 （北京航空航天大学）.pdfVIP

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  • 2026-05-20 发布于重庆
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CN120259465A 大介电常数对比下相界面敏感的开域电容比层析成像方法 （北京航空航天大学）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN120259465A

    (43)申请公布日2025.07.04

    (21)申请号202510329944.1

    (22)申请日2025.03.20

    (71)申请人北京航空航天大学

    地址100191北京市海淀区学院路37号

    (72)发明人孙江涛申梦娴徐立军赵席垚

    袁子棠

    (74)专利代理机构河北北方知识产权代理有限

    公司13194

    专利代理师陈亮

    (51)Int.Cl.

    G06T11/00(2006.01)

    G01N27/22(2006.01)

    G06F30/23(2020.01)

    权利要求书

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