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- 2026-05-21 发布于河南
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ICS31.080.01
CCSL90
T/SZECC
团体标准
T/XXXXXXX—XXXX
碳化硅(SiC)功率半导体可靠性测试方法
Reliabilitytestmethodforsiliconcarbide(SiC)powersemiconductors
XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施
深圳市电子商会 发布
T/XXXXXXX—XXXX
目次
1范围1
2规
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