CN119595683A 测量晶界扩散磁体中沿扩散方向扩散元素含量分布的方法、系统、电子设备和存储介质 （北京中科三环高技术股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119595683A

(43)申请公布日2025.03.11

(21)申请号202311161818.7

(22)申请日2023.09.08

(71)申请人北京中科三环高技术股份有限公司

地址100190北京市海淀区中关村东路66

号甲1号长城大厦27层

(72)发明人陈治安曹朔豪金国顺

(74)专利代理机构北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙)11446

专利代理师刘兴何春晖

(51)Int.Cl.

G01N23/223(2006.01)

权利要求书2页说明书7页附图4页

(54)发明名称

测量晶界扩散磁体中沿扩散方向扩散元素含量分布的方法、系统、电子设备和存储介质

(57)摘要

CN119595683A本申请公开了一种测量晶界扩散磁体中沿扩散方向扩散元素含量分布的方法、系统、电子设备和存储介质。所述测量晶界扩散磁体中沿扩散方向扩散元素含量分布的方法包括：基于校准样品的各个元素含量的ICP测量值对X射线仪进行校准；对磁体基材表面附着含有扩散元素的膜层进行晶界扩散热处理得到磁体样品；对磁体样品以预设厚度进行去厚处理；通过校准后的X射线仪测量具有不同厚度的磁体样品待测面的目标扩散元素的含量值。本申请通过校准样品的各个元素含量的ICP测量值对X射线仪进行