12-124元素电子逸出功及其测量方法综述.pdfVIP

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  • 2026-05-22 发布于北京
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12-124元素电子逸出功及其测量方法综述.pdf

元素的电子逸出功

电子逸出功是衡量从固体表面提取一个电子所需的最小能量。更精确地定义为,电子从单晶面被移除到足够远的距离(该距离足Φ

-4

以使图像力可忽略不计,但与任何其他面的距离相比仍然较小,通常约为10厘米)和电子在体相固体中的状态之间的能量差。一般

来说,每个单晶样品的每个面的电子逸出功都不同。

Φ

由于电子逸出功依赖于表面的清洁度,文献中报告的测量值往往涵盖相当大的范围。此表包含了一些典型值,这些值可以视为相Φ

对清洁表面的电子逸出功。每种值的测量方法都有所标注。以下缩写出现:

TE—热电子PE—光电效

应FE—场致CPD—接触

电位差polycr—多晶样品

amorp—非晶样品

括号中的值仅为近似值。

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