CN120294547A 一种基于幅相混叠度的模拟电路故障诊断的测点选择方法 (桂林电子科技大学).pdfVIP

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  • 2026-05-22 发布于重庆
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CN120294547A 一种基于幅相混叠度的模拟电路故障诊断的测点选择方法 (桂林电子科技大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120294547A

(43)申请公布日2025.07.11

(21)申请号202510343983.7

(22)申请日2025.03.23

(71)申请人桂林电子科技大学

地址541004广西壮族自治区桂林市七星

区金鸡路1号

(72)发明人谈恩民李瑞凡

(74)专利代理机构桂林市华杰专利商标事务所

有限责任公司45112

专利代理师覃永峰

(51)Int.Cl.

G01R31/316(2006.01)

G06F18/2415(2023.01)

G06F18/23(2023.01)

G06F18/21(2023.01)

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