IEC 61988-2-2-2003 — 等离子显示屏测试方法+源标准.pdfVIP

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IEC 61988-2-2-2003 — 等离子显示屏测试方法+源标准.pdf

IEC61988-2-2-2003:等离子显示屏光学测量测试方法

✅要点:本标准规定了评估等离子显示屏性能的标准化测试方法,包括亮度、对比度、

色域、视角和残影特性等显示质量关键参数。

标准概述

IEC61988-2-2-2003是IEC61988等离子显示屏系列标准的一部分,专门规定了用于表征PDP

性能的光学测量测试方法。该标准涵盖了测量条件、设备要求和测试程序,涉及亮度、对比

度、色度坐标、色温、白平衡和视角特性等关键显示参数。在2000年代等离子显示技术广泛

应用于大尺寸电视和专业显示器的背景下,本标准为整个行业提供了必要的测量一致性。

标准针对等离子显示器的独特特性进行了专门考量,包括其自发光特性、寻址方案对亮度的影

响,以及PDP技术特有的动态假轮廓(DFC)伪影的测量方法。虽然如今PDP技术已基本被

OLED和LCD取代,但本标准中的光学测量方法论对当前的自发光显示技术仍具有重要的参考

价值。

光学测量基础

测量设备与条件

IEC61988-2-2对测量设备提出了严格要求。光谱辐射计的光谱带宽不得超过5nm,波长精度

在±1nm以内。亮度计的测量精度必须达到±3%或更优。标准规定了精确光学测量所需的暗

室条件:环境照度低于1lux,所有房间

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