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相控阵超声无损检测的原理和特点概述

1.1.1相控阵超声无损检测技术概述

相控阵超声检测技术(PATPhasedArrayTesting)是一种为了得到超声聚焦波束，将多个独立晶片按特定的顺序组成阵列探头，并且用电子技术控制独立晶片的激励脉冲时间和聚焦声场对其检测，增加检出率及灵敏度的检测技术。该技术还有能在不移动相控阵探头的情况下进行大范围高灵敏动态扫查。该技术之所以能得到普遍的发展和应用，就是因为PAT有常规超声检测所没有的这一特别优势。此外，该技术还有着可经由编程来检测形状复杂的部件、较高的缺陷检出率、能多视角成像、较快的扫描速度、电子配置、有精致且小巧灵