CN119847898A 一种微型电脑主机老化测试方法及系统 （深圳市美高电子设备有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119847898A

(43)申请公布日2025.04.18

(21)申请号202510322160.6

(22)申请日2025.03.19

(71)申请人深圳市美高电子设备有限公司

地址518111广东省深圳市龙岗区平湖街

道禾花社区富康路6号宝能智创谷B栋

201、206-210

(72)发明人付振武宋健雷

(51)Int.Cl.

G06F11/34(2006.01)

G06F11/22(2006.01)

G06N3/04(2023.01)

G06N3/096(2023.01)

权利要求书2页说明书11页附图4