IEC 62047-21:半导体器件——微机电系统——第21部分:MEMS薄膜试验方法+源标准.pdf

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IEC62047-21:半导体器件——微机电系统

——第21部分:MEMS薄膜试验方法

微机电系统用薄膜材料力学性能的标准化表征技术

IEC62047-21于2014年发布,是MEMS器件系列标准IEC62047的一部分,规定了确定MEMS制造

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