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·34·《测控技术~2014年第33卷第1期

基于斜率特征的模拟电路故障诊断新方法

韩涵，王厚军，杨成林

(电子科技大学自动化工程学院，四川成都611731)

摘要：针对低可测性模拟电路存在的模糊组问题，提出一种模拟电路故障诊断新方法。利用不同元件在

电路可及节点间的斜率特征关系建立斜率测试矩阵，依据斜率测试矩阵准确找到电路中存在的模糊组

和独立可测元件，从而确定可诊断集，然后利用支持向量机对故障进行诊断。斜率法优点在于不需要对

电路拓扑结构进行分析，计算简便，支持向量机结构简单，泛化能力强。实验表明该方法具有良好的模

拟电路故障诊断效果。

关键词：模拟电路；故障诊断；可测性；斜率特征

中图分类号：TP181；TM930文献标识码：A文章编号：1000—8829(2014)01—0034一o4

ANewMethodforAnalogCircuitFaultDiagnosis