GBT 44937-2025 辐射发射测量 IC带状线法培训.pptxVIP

GB/T44937-2025辐射发射测量IC带状线法培训

目录

02

辐射发射测量基础

01

标准概述

03

IC带状线法详解

04

测量系统搭建

05

测量步骤与操作

06

结果分析与应用

标准概述

01

标准背景与发展历程

国际标准转化

GB/T44937.8-2025等同采用IEC61967-8:2023国际标准，实现与国际电磁兼容测量技术的同步接轨，确保我国集成电路产业测试方法的全球兼容性。

技术迭代需求

随着集成电路工作频率提升至GHz级，传统TEM小室法难以满足高频辐射发射精确测量要求，带状线法因其宽频带特性成为更优解决方案。

标准化进程

该标准由TC599全国集成电路标准化技术委员会牵头制定，历经三年技术论证与实验验证，最终形成覆盖150kHz-1GHz频段的完整测量规范。

适用范围与核心目标

4

产业支撑

3

测量一致性

2

频率覆盖

1

适用对象

旨在建立统一的辐射发射评价体系，为芯片设计提供EMC优化依据，降低整机系统电磁干扰风险，提升国产集成电路产品可靠性。

标准规定测量频段为150kHz至1GHz，重点解决300MHz以上高频辐射发射的精确捕获难题，填补原有标准高频段测量空白。

通过严格定义测试布置（包括DUT定位、带状线尺寸、阻抗匹配等），确保不同实验室间测量结果的可比性，相对偏差控制在±3dB以内。

明确适用于采用带状线法测量集成电路电磁辐射发