CN119619811A 一种表面温度传感器芯片电性能测试方法及系统 （青岛智腾微电子有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119619811A

(43)申请公布日2025.03.14

(21)申请号202510161962.3

(22)申请日2025.02.14

(71)申请人青岛智腾微电子有限公司

地址266000山东省青岛市高新区名园路

11号

(72)发明人刘欣付士民胡新超王晓伟程金晶刘军

(74)专利代理机构北京季诺知识产权代理事务所(普通合伙)16245

专利代理师任真真

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G01K15/00(2006.01)

权利要求书3页说明书8页附图2页

(54)发明名称

一种表面温度传感器芯片电性能测试方法

及系统

(57)摘要

CN119619811A本发明公开了一种表面温度传感器芯片电性能测试方法及系统，属于电性能测试技术领域。本发明在低、中、高三种不同速度的温度变化环境中测试传感器芯片，获取对应的电压值信号；其次，按升温阶段时间点对这些信号进行精细切分，形成信号切片集合；然后，从这些信号切片中提取响应特征值、稳定特征值和过渡特征值；进一步，基于这些特征值计算不同速度下的性能系数；最后，通过响应特征值计算增强值，对性能系数取均值并进行增强，最终得到电性能评估值。本发明通过在不同速度的温度变化环境中