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扫描电镜试题及答案

一、单项选择题（总共10题，每题2分）

1.扫描电镜（SEM）主要用于观察样品的什么特性？

A.透射能力

B.截面结构

C.表面形貌

D.元素组成

答案：C

2.扫描电镜的分辨率主要受什么因素影响？

A.加速电压

B.样品厚度

C.探针电流

D.冷却系统

答案：A

3.在扫描电镜中，二次电子信号主要来自样品的什么区域？

A.表面浅层

B.次表层

C.深层

D.核心层

答案：A

4.扫描电镜中常用的探测器是？

A.光电倍增管

B.半导体探测器

C.热电探测器

D.闪烁探测器

答案：B

5.扫描电镜中，背散射电子信号主要来自样品的什么区域？

A.表面

B.次表层

C.深层

D.核心层

答案：C

6.扫描电镜中，样品室内的真空度通常要求达到？

A.10^-3Pa

B.10^-5Pa

C.10^-7Pa

D.10^-9Pa

答案：B

7.扫描电镜中，样品台的移动方式通常是？

A.直线移动

B.圆周移动

C.斜向移动

D.多方向移动

答案：D

8.扫描电镜中，常用的样品制备方法不包括？

A.脱水

B.脆化

C.离子溅射

D.冷冻切片

答案：D

9.扫描电镜中，样品的导电性对成像质量的影响是？

A.导电性越好，成像质量越好

B.导电性越差，成像质量越好

C.导电性与成像质量无