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芯片测试中模块级的ATPG概述

测试向量的产生流程被称为测试向量自动产生（ATPG），可以大致分为模块级ATPG和顶层级ATPG。本文会分别介绍两者在本款芯片测试中的应用。

模块级即是在单个模块去做ATPG，产生测试向量，这类做法耗时较少，容易发现并解决问题，但是测试向量是以模块的端口产生的，即默认测试向量是从模块的端口而不是芯片外部整体的测试引脚进入的，所以无法用于直接的测试，在模块级做ATPG流程实际上是为了提前发现模块中的与ATPG相关的问题，保障在顶层产生测试向量的时候，模块级内部不出现问题。

ATPG流程

顶层级是指在顶层去做ATPG，会分不同的测试阶段（phase），每个阶段选择芯