CN119622310A 基于自适应优化机制的热障涂层多维度太赫兹无损检测方法及系统 (北京工业大学).docxVIP

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  • 2026-05-28 发布于山西
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CN119622310A 基于自适应优化机制的热障涂层多维度太赫兹无损检测方法及系统 (北京工业大学).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119622310A

(43)申请公布日2025.03.14

(21)申请号202411743523.5

(22)申请日2024.11.30

(71)申请人北京工业大学

地址100020北京市朝阳区平乐园100号

申请人安徽工程大学

(72)发明人刘增华李瑞吴育衡叶东东

(74)专利代理机构北京思海天达知识产权代理

有限公司11203

专利代理师王兆波

(51)Int.Cl.

G06F18/213(2023.01)

G01N21/3586(2014.01)

G06F18/25(2023.01)

G06F18/2131(2023.01)

G06F18/2135(2023.01)

G06N3/0464(2023.01)

G06F18/10(2023.01)

权利要求书3页说明书8页附图3页

(54)发明名称

基于自适应优化机制的热障涂层多维度太

赫兹无损检测方法及系统

(57)摘要

CN119622310A本发明公开了基于自适应优化机制的热障涂层多维度太赫兹无损检测方法及系统,包括:通过构建矩阵式样品库,制备不同厚度、孔隙率和均匀度的热障涂层样品;获取热障涂层的几何尺寸稳定性、微观结构完整性及材料组织均匀性三个维度的太赫兹检测数据

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