T∕CPIA 0144-2025 硅多晶表面微硅尘的测定 浊度计法.docxVIP

ICS27.160CCSF12团体标准T/CPIA0144—2025多晶硅表面微尘的测定浊度计法Determinationofmicro-silicadustonthesurfacesilicon-Nephelometryofpolycrystalline

ICS27.160

CCSF12

团

体

标

准

T/CPIA0144—2025

多晶硅表面微尘的测定

浊度计法

Determination

ofmicro-silicadustonthesurface

silicon-Nephelometry

of

polycrystalline

2025-11-15发布

2025-11-30实施

中国光伏行业协会??发布

T/CPIA0144—2025目次前言 III1234

T/CPIA0144—2025

目

次

前言 III

1

2

3

4

5

范围 1

规范性引用文件 1

术语和定义 1

方法原理 1

试剂和材料 1

要求 1

浊度标准使用液 1

仪器和设备 2

样品 2

样品的采集 2

样品的制备 2

分析步骤 2

6

7

8

8.1

8.2

8.3

仪器自检 2

校准 2

样品测定 2

9