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芯片测试中测试压缩结构和测试压缩率的选取案例

在芯片测试中，由于可使用的引脚有限，所以多使用测试压缩的方式。即使用测试压缩结构，使得芯片内部生成数量远多于测试引脚数目的较短的扫描链。

图1.11测试压缩结构示意图

如公式3-1所示，compressionratio指的是测试压缩比，scanchainnumber指测试压缩完成后的扫描链数目，scaninnumber是指测试向量输入端口的数目，seriallevel指的是串并转换的级数，这里通常选择为2。所以测试压缩比就等于扫描链的数量除以测试向量输入端口与串并转换级数的积。

同时这些扫描链通过测试压缩结构与芯片中的数据输入部