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材料现代测试技术试题及详细答案

一、单项选择题（每题3分，共30分）

下列测试技术中，主要用于分析材料化学成分及元素含量的是（）

A.扫描电子显微镜（SEM）B.X射线衍射（XRD）C.原子吸收光谱（AAS）D.透射电子显微镜（TEM）

X射线衍射分析中，布拉格方程的表达式为（）

A.2dsinθ=nλB.dsinθ=nλC.2dcosθ=nλD.dcosθ=nλ

扫描电子显微镜（SEM）的主要成像信号中，用于观察材料表面形貌、分辨率较高的是（）

A.背散射电子B.二次电子C.特征X射线D.俄歇电子

下列哪种测试方法可用于分析材料的内部缺陷（如裂纹、气孔），且不破坏试样（）

A.金相显微镜观察B.超声波检测（UT）C.拉伸试验D.硬度测试

透射电子显微镜（TEM）的试样要求是（）

A.厚度在100μm以上，表面平整B.厚度在100nm以下，表面平整

C.厚度在1mm以上，无需抛光D.任意厚度，表面粗糙也可

红外光谱分析（IR）的核心原理是（）

A.