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FRONTIERDISCUSSION|前沿探讨

电磁兼容中的测试与处理的相关技术分析

黄臣君

上汽通用五菱汽车股份有限公司广西柳州市545001

摘要：随着电气技术的飞速发展和电子设备的使用愈发频繁，进而就出现了各种电磁兼容问题，并迟迟

得不到很好的解决，所以人们开始重视起了提高电子设备的电磁兼容性能和测试方法。电磁兼容

技术主要包括了两个方面，一是电磁干扰技术，二是电磁抗干扰技术。在电磁干扰方面具有研究

成本较高，且电磁干扰测量技术不够成熟等问题；在静电放电方面具有危害大，发生频繁，防护

方法繁杂等问题，所以对于电磁兼容的研究和技术分析十分必要。本文就针对上述的问题展开研究，

从电磁兼容中的干扰测量问题和电磁抗干扰中的静电放电问题着手，并给出理论分析和验证。

关键词：电磁兼容；GTEM小室；静电放电；测试与处理

1电磁干扰测量问题分析小室的封闭测试空间，最后在使用锥形墙体被测设备摆放在不同位置时频谱仪所守输出

将GTEM小室的后面密封起来，防止电磁波的电压值，则代表了波数的平方，体现电

1.1GTEM小室硬件结构设计