CN119757234A 一种基于理论光谱与量测光谱的金属薄膜测量方法 (佛山易事达电容材料有限公司).pdfVIP

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  • 2026-06-04 发布于重庆
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CN119757234A 一种基于理论光谱与量测光谱的金属薄膜测量方法 (佛山易事达电容材料有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119757234A

(43)申请公布日2025.04.04

(21)申请号202411955389.5

(22)申请日2024.12.28

(71)申请人佛山易事达电容材料有限公司

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