CN119767233A 一种mic测试装置及测试方法 （深圳市新宇腾跃电子有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119767233A

(43)申请公布日2025.04.04

(21)申请号202411943871.7

(22)申请日2024.12.27

(71)申请人深圳市新宇腾跃电子有限公司

地址518105广东省深圳市宝安区松岗街

道潭头西部工业园区A27-A28栋

(72)发明人李更威吕剑王旭生卢启

(74)专利代理机构广东中禾共赢知识产权代理

事务所(普通合伙)44699

专利代理师陈欢

(51)Int.Cl.

H04R29/00(2006.01)

权利要求书2页说明书8页附图3页

(54)发明名称

一