《集成电路 时钟电路测试方法》.pdfVIP

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  • 2026-06-04 发布于北京
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GB/TXXXX-XXXX

集成电路时钟电路测试方法

1范围

本文件规定了集成电路时钟电路(以下简称器件)电参数测试方法,主要包括测试目的、测试原理、

测试条件和测试程序。

本文件适用于时钟电路电参数测试。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,

仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本

文件。

GB/TXXX

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

时钟电路clockcircuits

对输入时钟信号进行频率变换、时钟分配、时钟扩频、抖动消除、驱动增强、延时调整、电平转换

等处理,以产生满足要求输出时钟信号的电路。

3.2

输入频率范围inputfrequencyrange

f

in,r

输出时钟信号参数保持在规定值时,器件允许的时钟输入频率范围。

3.3

最高输出频率maxim

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