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探寻SoC设计中模块级功能验证完备性的关键路径与创新策略

一、引言

1.1研究背景与意义

随着半导体工艺技术的飞速发展，片上系统（System-on-a-Chip，SoC）的设计规模和复杂度呈指数级增长。SoC将多个功能模块，如处理器、存储器、各类接口电路等集成在单一芯片上，以实现高度的系统集成和功能多样化。这种高度集成的设计方式在为电子设备带来更高性能、更低功耗和更小尺寸的同时，也给SoC设计中的验证工作带来了巨大的挑战。

在早期的集成电路设计中，由于芯片规模较小，功能相对简单，采用传统的验证方法，如基于测试向量的直接测试，基本能够满足验证需求。然而，如今的SoC芯片集成了数以亿