CN119647385A 谐振器的导纳测试方法及谐振器 （深圳飞骧科技股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119647385A

(43)申请公布日2025.03.18

(21)申请号202510174211.5

(22)申请日2025.02.18

(71)申请人深圳飞骧科技股份有限公司

地址518052广东省深圳市南山区南头街

道大汪山社区南光路286号水木一方

大厦1栋1601

(72)发明人请求不公布姓名请求不公布姓名

(74)专利代理机构深圳君信诚知识产权代理事务所(普通合伙)44636

专利代理师刘伟

(51)Int.Cl.

G06F30/367(2020.01)

H03H9/25(2006.01)

权利要求书1页说明书5页附图3页

(54)发明名称

谐振器的导纳测试方法及谐振器

(57)摘要

CN119647385A本发明提供了一种谐振器的导纳测试方法及谐振器，其中，所述测试方法包括以下步骤：获取待测试谐振器的散射参数矩阵文件；根据所述散射参数矩阵文件构建真实谐振器的原理电路；所述真实谐振器附加有寄生效应；根据所述原理电路推导得到真实谐振器的散射参数的方程式；通过所述方程式计算得到真实谐振器的导纳参数，以用于设计所述真实谐振器。本发明中谐振器的导纳测试方法不仅成本低且能获取更精准

CN119647385A

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