CN119654565A 试验装置、试验系统、试验方法及试验程序 （株式会社爱德万测试）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119654565A

(43)申请公布日2025.03.18

(21)申请号202380057690.1

(22)申请日2023.08.03

(30)优先权数据

2022-1594162022.10.03JP

(85)PCT国际申请进入国家阶段日2025.02.05

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/JP2023/0283832023.08.03

(87)PCT国际申请的公布数据

WO2024/075381JA2024.04.11

(71)申请人株式会社爱德万测试

地址日本东京千代田区丸之内1丁目6番2号

(72)发明人菅原聪洋足立敏明

(74)专利代理机构北京同立钧成知识产权代理

有限公司11205

专利代理师马雯雯臧建明

(51)Int.Cl.

G01R31/26(2020.01)

H01L21/66(2006.01)

权利要求书3页说明书21页附图6页

(54)发明名称

试验装置、试验系统、试验方法及试验程序

(57)摘要

CN119654565A本发明提供一种试验装置，具备：图像数据获取部，根据与多个试验项目对应的一种或多种发光模式的光，获取图像传感器也就是待试验器件输出的各图像数据；图像处理控制部，将所述图像数据获取部所获取的一