测试系统的抗干扰技术.pptxVIP

抗干扰技术前言：微机测试系统在工业自动化、生产过程控制等领域应用越来越深人和广泛．不仅改善了工作条件，而且有效地提高了生产效率。但是测试系统的工作环境往往都比较恶劣和复杂，必须保持系统能长期稳定、可靠地运行，否则将导致测试误差甚至会使系统失灵，造成巨大的损失。而影响测试系统可靠、安全运行的主要因素是来自系统内部和外部的各种电气干扰，如何克服这些因素对系统造成的影响，显得更为重要。

6.1干扰因素６.1干扰因素(1)电和磁的干扰电和磁可以通过电路对仪表或系统产生干扰，电场和磁场的变化也会在仪表或系统中的有关电路中感应出电势，从而影响仪表或系统的正常工作。这种干扰是最为严重的干扰。(2)热干扰元器件在工作时产生的热量所引起的温度波动和环境温度变化等都会引起电路参数发生变化或产生附加的热电势，从而影响系统的正常工作。(3)光干扰在测试系统中广泛使用各种半导体器件，但是半导体材料在光线的作用下回激发出电子空穴对，使半导体器件产生电势或引起阻值的变化，从而影响仪表或系统的正常丁作。

6.1干扰因素(4)机械干扰由于机械振动或冲击，使系统中的电气元件发生振动、变形，使连接导线发生位移等。(5)湿度的影响环境湿度的增加，会使绝缘体的绝缘电阻下降，漏电流增加；会使电介质的介电常数增加；会使吸潮的线圈骨架膨胀等，尤其在我国南方的潮湿